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LMZ30606EVM-003
423.101
LMZ30606EVM-003数据手册
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作者:Walt Kester
了解SINADENOBSNRTHD
THD + NSFDR,不在噪底中迷失
指南
MT-003
ANALOG
INPUT
f
a
f
s
N
M
2
POINT
SPECTRAL
OUTPUT
N-BIT
ADC
BUFFER
MEMORY
M-WORDS
M-POINT
FFT
PROCESSOR
Rev.A, 10/08, WK Page 1 of 8
简介
用于定量表示ADC动态性能的常用指标有六个,分别是:SINAD(信纳比)、ENOB(有效位
数)、SNR(信噪比)、THD(总谐波失真)、THD + N(总谐波失真加噪声)和SFDR(无杂散动态
范围)。对于这些指标,虽然大部分ADC制造商采用相同的定义,但也存在一些例外。比
ADC时,这些指标非常重要,因此不仅要了解各指标反映哪一方面性能,而且要明白它
们之间的关系。
有多种方法可以量化ADC的失真和噪声,但所有方法均基于一种使用一般化测试设置的
FFT分析,例如图1所示的设置。
FFT的频谱输出是频域中连续的M/2个点(MFFT的大小,即缓冲存储器中存储的采样点
数)。两点之间的间隔为f
s
/M,覆盖的总频率范围为DCf
s
/2,其中fs为采样速率。各频率
的宽度(有时也称为FFT分辨率)为f
s
/M。图2所示为使用ADI公司ADIsimADC
®
程序
得到的一个理想12ADCFFT输出。注意,FFT的理论噪底等于理论SNR加上FFT“处理
增益”10×log(M/2)。必须记住,用于计算SNR的噪声值是分布于整个奈奎斯特带宽(DC
f
s
/2)的噪声,而FFT用作一个带宽为f
s
/M的窄带频谱分析仪,它扫描整个频谱,其结果是将
噪声下推一个与处理增益相等的量,该效应与模拟频谱分析仪的带宽窄化相同。
1:用于对ADC输出进行FFT分析的一般化测试设置

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